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膜厚测试仪

牛津金厚测试仪920系列以及全自动CMI900金镍测厚仪

牛津仪器专为PCB行业研发金镍测厚仪,用于测量PCB板上金、镍层厚度,测量0.0001um,是PCB行业的金厚控制工具 ...

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金厚测试仪CMI900-S

牛津CMI900-S金厚测试仪主要用于测试电路板沉金、电金、五金连接器上的镀金、镀镍镀层,具有测试精准,测试效率高的特点 ...

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膜厚测试仪CMI

牛津膜厚测试仪CMI系列1984年在美国芝加哥发布,上市30余年,累计销售过5000台,主要用于测量各种电镀工件上的多层电镀层厚度,具有测试精准,测试效率高的特点。 ...

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X-Strata920-P膜厚测试仪

X-Strata920-P全自动膜厚测试仪测量范围为钛Ti22---铀U92间各元素; 同时测量5层镀层(含基材镀层),15种元素共存校正; 进行非接触、非破坏的能量色散X射线荧光(EDXRF)分析,进行测量; ...

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膜厚测试仪X-Strata920

牛津X-Strata920 X射线膜厚测试仪快速的测量及材料分析,、率.牛冿 OXFORD X-strata 920适合:PCB行业,电镀行业等做精密测试。可测镀金,银,铜,锡,及金属等 ...

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牛津膜厚测试仪CMI900-P二手转让

在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验,牛津膜厚测试仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。牛津膜厚测试仪X-Strata系列基于W... ...

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